新的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)提供了可追蹤的光學(xué)粗糙度測量
    迄今為止，新的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為光學(xué)粗糙度測量提供了驗(yàn)證。通常，表面的傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)只適用于接觸式掃描技術(shù)，而光學(xué)測量很難被追蹤。
    Alicona的新粗糙度標(biāo)準(zhǔn)既適用于接觸式也適合于光學(xué)測量系統(tǒng)。該標(biāo)準(zhǔn)顯示了光學(xué)無限變焦技術(shù)和接觸式測量在相同的公差范圍內(nèi)可以取得等價(jià)的測量結(jié)果。
    對于粗糙度標(biāo)準(zhǔn)對光學(xué)粗糙度測量的驗(yàn)證，Alicona也提供了一個(gè)可校準(zhǔn)和驗(yàn)證的micro contour artefact，來追蹤形態(tài)測量。
    無限變焦的光學(xué)技術(shù)適用于實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)中高分辨率的測量。即使在陡峭的斜面和強(qiáng)反射性能的情況下，垂直分辨率也可以高達(dá)10nm。在質(zhì)量保證方面，該技術(shù)被成功地用于形態(tài)和粗糙度測量。無限變焦技術(shù)被包括在新的ISO標(biāo)準(zhǔn)25178中，新的ISO標(biāo)準(zhǔn)25178*次包括光學(xué)處理技術(shù)。